Stand: 20 Juni 2008 Weiterempfehlen DruckenDrucken

Sensorelektronik

EMV / Signaturkontrolle Radarreflexionsfreie Kammer / Elektromagnetische PrüfungDiese reflexionsfreie Kammer (15m*5m*5m) wird für Messungen von 1 GHz - 40 GHz und für Nutzlasten von ca. 50 kg eingesetzt. Sie wird speziell verwendet zur Bestimmung der Eigenschaften von Werkstoffen und Strukturen für Stealth-Anwendungen sowie zur Ermittlung der Antennen-Charakteristiken.

EMV / Signaturkontrolle
Radarreflexionsfreie Kammer / Elektromagnetische Prüfung
Diese reflexionsfreie Kammer (15m*5m*5m) wird für Messungen von 1 GHz - 40 GHz und für Nutzlasten von ca. 50 kg eingesetzt. Sie wird speziell verwendet zur Bestimmung der Eigenschaften von Werkstoffen und Strukturen für Stealth-Anwendungen sowie zur Ermittlung der Antennen-Charakteristiken.

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EMV / Signaturkontrolle  Radarreflexionsfreie Kammer / Elektromagnetische PrüfungDiese reflexionsfreie Kammer (15m*5m*5m) wird für Messungen von 1 GHz - 40 GHz und für Nutzlasten von ca. 50 kg eingesetzt. Sie wird speziell verwendet zur Bestimmung der Eigenschaften von Werkstoffen und Strukturen für Stealth-Anwendungen sowie zur Ermittlung der Antennen-Charakteristiken. Dieses Mock-up wird zur Validierung der elektromagnetischen Software eingesetzt, in diesem Fall der Software "ASERIS ". In der reflexionsfreien Kammer werden unterschiedliche Antennenkonfigurationen untersucht, um numerische Simulationen und experimentelle Messungen zu vergleichen.

EMV / Signaturkontrolle
Radarreflexionsfreie Kammer / Elektromagnetische Prüfung
Diese reflexionsfreie Kammer (15m*5m*5m) wird für Messungen von 1 GHz - 40 GHz und für Nutzlasten von ca. 50 kg eingesetzt. Sie wird speziell verwendet zur Bestimmung der Eigenschaften von Werkstoffen und Strukturen für Stealth-Anwendungen sowie zur Ermittlung der Antennen-Charakteristiken.
Dieses Mock-up wird zur Validierung der elektromagnetischen Software eingesetzt, in diesem Fall der Software "ASERIS ". In der reflexionsfreien Kammer werden unterschiedliche Antennenkonfigurationen untersucht, um numerische Simulationen und experimentelle Messungen zu vergleichen.

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EMV / SignaturkontrolleRadarreflexionsfreie Kammer / Elektromagnetische PrüfungDiese reflexionsfreie Kammer (15m*5m*5m) wird für Messungen von 1 GHz - 40 GHz und für Nutzlasten von ca. 50 kg eingesetzt. Sie wird speziell verwendet zur Bestimmung der Eigenschaften von Werkstoffen und Strukturen sowie zur Ermittlung der Antennen-Charakteristiken. In diesem Fall ist es möglich, die Diagramme verschiedener Antennen montiert auf einer Plattform (in Modellform) zu verifizieren

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Radarreflexionsfreie Kammer / Elektromagnetische Prüfung
Diese reflexionsfreie Kammer (15m*5m*5m) wird für Messungen von 1 GHz - 40 GHz und für Nutzlasten von ca. 50 kg eingesetzt. Sie wird speziell verwendet zur Bestimmung der Eigenschaften von Werkstoffen und Strukturen sowie zur Ermittlung der Antennen-Charakteristiken. In diesem Fall ist es möglich, die Diagramme verschiedener Antennen montiert auf einer Plattform (in Modellform) zu verifizieren

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EMV / SignaturkontrolleRadarreflexionsfreie Kammer / Elektromagnetische PrüfungDiese reflexionsfreie Kammer (15m*5m*5m) wird für Messungen von 1 GHz - 40 GHz und für Nutzlasten von ca. 50 kg eingesetzt. Sie wird speziell verwendet zur Bestimmung der Eigenschaften von Werkstoffen und Strukturen sowie zur Ermittlung der Antennen-Charakteristiken. In diesem Fall ist es möglich, die Diagramme verschiedener Antennen montiert auf einer Plattform (in Modellform) zu verifizieren.

EMV / Signaturkontrolle
Radarreflexionsfreie Kammer / Elektromagnetische Prüfung
Diese reflexionsfreie Kammer (15m*5m*5m) wird für Messungen von 1 GHz - 40 GHz und für Nutzlasten von ca. 50 kg eingesetzt. Sie wird speziell verwendet zur Bestimmung der Eigenschaften von Werkstoffen und Strukturen sowie zur Ermittlung der Antennen-Charakteristiken. In diesem Fall ist es möglich, die Diagramme verschiedener Antennen montiert auf einer Plattform (in Modellform) zu verifizieren.

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Künstliche Spürnase LIMSEin EADS-Wissenschaftler veranschaulicht mit dem Versuchsaufbau das Prinzip der Multi-Reflexionszelle eines Laser-Ionen-Mobiliäts-Spektrometers (LIMS). Ein durch künstlichen Nebel sichtbar gemachter Laserstrahl wird durch Spiegel mehrfach gefaltet. Dadurch erhöht sich seine Ionisationseffizienz und somit die Empfindlichkeit der künstlichen Spürnase.

Künstliche Spürnase LIMS
Ein EADS-Wissenschaftler veranschaulicht mit dem Versuchsaufbau das Prinzip der Multi-Reflexionszelle eines Laser-Ionen-Mobiliäts-Spektrometers (LIMS). Ein durch künstlichen Nebel sichtbar gemachter Laserstrahl wird durch Spiegel mehrfach gefaltet. Dadurch erhöht sich seine Ionisationseffizienz und somit die Empfindlichkeit der künstlichen Spürnase.

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EMV / SignaturprüfungRadarreflexionsfreie Kammer / Elektromagnetische PrüfungDie radarreflexionsfreie Kammer wird speziell verwendet zur Bestimmung der Eigenschaften von Werkstoffen und Strukturen für Stealth-Anwendungen sowie zur Ermittlung der Antennen-Charakteristiken.

EMV / Signaturprüfung
Radarreflexionsfreie Kammer / Elektromagnetische Prüfung
Die radarreflexionsfreie Kammer wird speziell verwendet zur Bestimmung der Eigenschaften von Werkstoffen und Strukturen für Stealth-Anwendungen sowie zur Ermittlung der Antennen-Charakteristiken.

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Künstliche SpürnaseDrei fortschrittliche Sensortechnologien zur Erkennung von atomaren, biologischen und chemischen Sicherheitsrisiken sowie zur Drogenerkennung.

Künstliche Spürnase
Drei fortschrittliche Sensortechnologien zur Erkennung von atomaren, biologischen und chemischen Sicherheitsrisiken sowie zur Drogenerkennung.

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